超聲波測厚系統(tǒng)的發(fā)展歷史可以大致分為以下幾個階段：

早期探索階段：

19世紀：人們開始研究聲波在空氣和其他材料中的傳播。

1830年：法國科學家菲利克斯·薩伐爾（Félix Savart）首次利用人工機械技術(shù)產(chǎn)生超聲波。

1880年：法國物理學家皮埃爾·居里（Pierre Curie）和雅克·居里（Jacques Paul Curie）兩兄弟發(fā)現(xiàn)電氣石的壓電效應，這為后來利用電子技術(shù)產(chǎn)生超聲波奠定了基礎(chǔ)。

技術(shù)奠基階段：

20世紀20年代：使用超聲波檢測材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的想法開始得到探究。

1931年：超聲無損檢測領(lǐng)域的第一個特定專利被申請。

1940年：密歇根大學的Floyd Firestone教授發(fā)明了第一臺實用的商業(yè)超聲檢測儀器，稱為反射鏡，并獲得了專利。

技術(shù)進步與應用拓展階段：

第二次世界大戰(zhàn)期間：聲吶的發(fā)展進一步推動了超聲檢測技術(shù)的進步。

20世紀50年代：商業(yè)超聲儀器開始大量出現(xiàn)，主要用于超聲探傷，但也逐漸用于厚度測量。

20世紀60年代：出現(xiàn)了第一批為測量厚度而設計的更小、更便攜的儀器，這些儀器以數(shù)字形式顯示厚度。

1973年：奧林巴斯的前身Panametrics推出的5221型儀器是第一臺預設有多模式測量功能、可以測量多種材料和厚度的商用超聲測厚儀。

性能提升與功能完善階段：

20世紀70年代：電池供電、相對緊湊的超聲測厚儀變得普遍，儀器也持續(xù)變得更小巧、更強大。

20世紀80年代：測厚儀中引進了波形顯示和內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄功能，以協(xié)助操作人員更有效地進行測量。

20世紀90年代：數(shù)字信號處理取代了模擬電路，提高了測量的穩(wěn)定性和可重復性。

現(xiàn)代發(fā)展階段：

微處理器技術(shù)的進步將超聲測厚儀的性能提升到了新的水平，使其更加成熟和易于使用。

超聲波測厚儀不僅用于金屬材料的厚度測量，還廣泛應用于非金屬材料的厚度測量，如塑料、橡膠、陶瓷等。

總之，超聲波測厚系統(tǒng)的發(fā)展歷史是一個不斷技術(shù)進步、功能完善和應用拓展的過程。從早期的探索到現(xiàn)代的廣泛應用，超聲波測厚系統(tǒng)已成為工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量檢測中不可或缺的重要工具。